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國際光纖微彎損耗測試標(biāo)準(zhǔn)2011年有望出臺欄目 :公司動態(tài)
發(fā)布時間 : 2015-08-31
近期舉辦的“國際光纖微彎損耗測試方法研討會”上，帝斯曼光纖材料研發(fā)總監(jiān)史蒂夫施密德向記者透露，帝斯曼在2009年提交了光纖微彎損耗測試方法和標(biāo)準(zhǔn)的立項工作，有望在2011年出臺初步的測試標(biāo)準(zhǔn)。 在近期舉辦的“國際光纖微彎損耗測試方法研討會”上，帝斯
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近期舉辦的“國際光纖微彎損耗測試方法研討會”上
帝斯曼光纖材料研發(fā)總監(jiān)史蒂夫施密德向記者透露帝斯曼在2009年提交了光纖微彎損耗測試方法啝標(biāo)準(zhǔn)的立項工作有望在2011年出臺初步的測試標(biāo)準(zhǔn)
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